割炬厂家
免费服务热线

Free service

hotline

010-00000000
割炬厂家
热门搜索:
行业资讯
当前位置:首页 > 行业资讯

ICP痕量分析仪器研制应用研讨会在京召开分析仪器安全分析仪-【新闻】

发布时间:2021-05-28 18:29:51 阅读: 来源:割炬厂家

ICP痕量分析仪器研制应用研讨会在京召开_分析仪器,安全分析仪

Foodjx导读:由钢铁研究总院和北京纳克组织召开的 ICP痕量分析仪器的研制和应用 学术研讨会2011年7月14日在北京顺利召开。 参加本次研讨会的嘉宾有中国工程院院士金国藩教授、中国工程院院士李正邦教授以及来自中钢协、中国分析测试协会、中国仪器仪表学会、天津大学、中科院、中国地质科学院、北京矿冶研究总院、国家环境分析测试中心、北京理化分析测试中心的多位科学家。同时,国家科技部条财司条件处郑健副处长、北京科学仪器装备协作服务中心曹磊副主任和集团公司副总经理、北京纳克董事长李波出席会议。 研讨会上,李波董事长向专家介绍集团公司发展状况和 十二五 规划;郑健副处长代表科技部条财司条件处介绍了 十二五 期间国家在 科学仪器自主创新 方面支持的重点方向和新举措。陈吉文经理就 ICP痕量分析仪器的研制和应用 应用驱动的科学仪器自主创新模式探索 进行了汇报。 与会领导和专家在听取了项目汇报,参观了北京纳克生产基地后,结合所从事的研究工作,介绍了所在的冶金、半导体、环境、地质矿产等领域对ICP痕量分析仪器的具体需求,认为开发此类仪器非常必要,并对北京纳克ICP仪器研发工作以及整个产业发展提供了重要、明确的建议和意见。 本次研讨会将对北京纳克的产业发展规划和研发工作起到重要的指导作用。

(来源:仪表网)

上一篇:浙江富阳控制阀行业协会成立

下一篇:电子商务应用成为互联网经济生力军

南充订做职业装

云南订做工服

日照西装订制

相关阅读